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研究单位
Experimental up-scaling of thermal conductivity reductions in silicon by vacancy-engineering: From the nano-To the micro-scale
Neil M. Wight
, Nick S. Bennett
UHI Perth
科研成果
:
Conference article
›
同行评审
综述
指纹
指纹
探究 'Experimental up-scaling of thermal conductivity reductions in silicon by vacancy-engineering: From the nano-To the micro-scale' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Material Science
Thermoelectrics
100%
Thermal Conductivity
100%
Silicon
100%
Annealing
50%
Doping (Additives)
50%
Film
50%
Thin Films
50%
Supersaturation
50%