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An overview of site testing and site characterisation, as applied in the search for an astronomical site in Kenya

  • Edward Graham
  • , Richard Vaughan
  • , David Buckley
  • , Acacia Leakey
  • , Colin Snodgrass
  • , Paul Baki
  • , Susan Murbana
  • , Chu Owens
  • , Dan Hillier

Resultado de pesquisa: Conference contribution

Resumo

The first half of this short paper provides a brief introductory overview of methods to aid astronomical site testing, characterization and selection. In the second half, we describe how some of these methodologies have been applied in the search for an optical astronomical site in Kenya over the past decade.

Idioma originalEnglish
Título da publicação do anfitriãoAstronomy in Focus - As presented at the IAU 32nd General Assembly, 2024
EditoresDiana M. Worrall
EditoraCambridge University Press
Páginas11-15
Número de páginas5
Volume20
EdiçãoA32
ISBN (eletrónico)9781009399227, 9781009433341, 9781009545860, 9781009546102, 9781009546126, 9781009866903
DOIs
Estado da publicaçãoPublished - 30 jul. 2026
EventoAstronomy in Focus - Presented at the 32nd IAU General Assembly, GA 2024 - Cape Town, South Africa
Duração: 6 ago. 2024 → 15 ago. 2024

Conference

ConferenceAstronomy in Focus - Presented at the 32nd IAU General Assembly, GA 2024
País/TerritórioSouth Africa
CidadeCape Town
Período6/08/24 → 15/08/24

Impressão digital

Mergulhe nos tópicos de investigação de “An overview of site testing and site characterisation, as applied in the search for an astronomical site in Kenya“. Em conjunto formam uma impressão digital única.

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