Experimental up-scaling of thermal conductivity reductions in silicon by vacancy-engineering: From the nano-To the micro-scale

  • Neil M. Wight
  • , Nick S. Bennett

Résultats de recherche: Conference article › Revue par des pairs

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Experimental up-scaling of thermal conductivity reductions in silicon by vacancy-engineering: From the nano-To the micro-scale ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.
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