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An overview of site testing and site characterisation, as applied in the search for an astronomical site in Kenya

  • Edward Graham
  • , Richard Vaughan
  • , David Buckley
  • , Acacia Leakey
  • , Colin Snodgrass
  • , Paul Baki
  • , Susan Murbana
  • , Chu Owens
  • , Dan Hillier

Résultats de recherche: Conference contribution

Résumé

The first half of this short paper provides a brief introductory overview of methods to aid astronomical site testing, characterization and selection. In the second half, we describe how some of these methodologies have been applied in the search for an optical astronomical site in Kenya over the past decade.

langue originaleEnglish
titreAstronomy in Focus - As presented at the IAU 32nd General Assembly, 2024
rédacteurs en chefDiana M. Worrall
EditeurCambridge University Press
Pages11-15
Nombre de pages5
Volume20
EditionA32
ISBN (Electronique)9781009399227, 9781009433341, 9781009545860, 9781009546102, 9781009546126, 9781009866903
Les DOIs
étatPublished - 30 juil. 2026
EvénementAstronomy in Focus - Presented at the 32nd IAU General Assembly, GA 2024 - Cape Town, South Africa
Durée: 6 août 2024 → 15 août 2024

Conference

ConferenceAstronomy in Focus - Presented at the 32nd IAU General Assembly, GA 2024
Pays/TerritoireSouth Africa
La villeCape Town
période6/08/24 → 15/08/24

Empreinte digitale

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