تخطي إلى التنقل الرئيسي تخطي إلى البحث تخطي إلى المحتوى الرئيسي

Weak anti-localization behavior of high mobility 2D hole gas in a strained Ge QW heterostructure

  • J. Foronda
  • , C. Morrison
  • , M. Myronov
  • , J. E. Halpin
  • , S. D. Rhead
  • , D. R. Leadley

نتاج البحث: Conference contribution

ملخص

In summary we have measured the low temperature and low field MR of a high mobility Ge 2DHG. The resulting MR curves demonstrate WL-like behavior at temperatures below 2K with WAL-like behavior appearing between 3K and 12K. Evidence of WAL has not been previously observed in Ge. We believe this transition to be the result of a summation of WL and WAL effects in the main conduction channel and parallel conduction channel(s). This is a promising result for Ge as a possible channel for future spin-FETs.

اللغة الأصليةEnglish
عنوان منشور المضيف2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, ISTDM 2014
ناشرIEEE Computer Society
الصفحات111-112
عدد الصفحات2
رقم المعيار الدولي للكتب (المطبوع)9781479954285
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرPublished - 11 أغسطس 2014
الحدث7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, ISTDM 2014 - Singapore, Singapore
المدة: ٢ يونيو ٢٠١٤٤ يونيو ٢٠١٤

سلسلة المنشورات

الاسم2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, ISTDM 2014

Conference

Conference7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, ISTDM 2014
الدولة/الإقليمSingapore
المدينةSingapore
المدة٢/٠٦/١٤٤/٠٦/١٤

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Weak anti-localization behavior of high mobility 2D hole gas in a strained Ge QW heterostructure'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا